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Microscope à force atomique

27 May 2009 Print This Post

Ce microscope à champ proche (AFM et STM) fournit une information topographique à résolution nanométrique de la surface d’un échantillon. Il est en ce sens parfaitement complémentaire du spectromètre Raman.

Le microscope PSIA XE100 peut fonctionner dans différents modes selon le type de surface: STM, AFM mode non-contact, tapping, électrique (EFM)…
Plusieurs types de pointes peuvent également y être adaptées :

  • pointe en silicium classique,
  • pointe haute résolution,
  • pointe à sur-pointe,
  • pointes métallisées pour mesures électriques….

Exemple de mesure par microscopie à force atomique sur des nanoparticules d’or

Mesure par microscopie à force atomique sur des nanoparticules d’or

Mesure par microscopie à force atomique sur des nanoparticules d’or

On voit clairement que leur dimension caractéristique est de l’ordre d’une vingtaine de nm.
Ces nanoparticules possèdent des propriétés optiques particulières pour des applications en spectroscopie Raman exaltée de surface (SERS)